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技術(shù)文章
  • 2021

    6-23

    賽默飛電子顯微鏡的相關(guān)介紹,你確定不了解一下嗎?

    賽默飛掃描電鏡由電子槍發(fā)射出來的電子束,在加速電壓的作用下,經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚,經(jīng)過二至三個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng),電子束會(huì)聚成一個(gè)細(xì)的電子束聚焦在樣品表面。在末級(jí)透鏡上邊裝有掃描線圈,在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。賽默飛掃描電鏡由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用,結(jié)果產(chǎn)生了各種信息:二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子等。這些信號(hào)被相應(yīng)的接收器接收,經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上,調(diào)制顯像管的亮度。由于經(jīng)過掃描線圈上的電流是與顯像管相...
  • 2021

    6-21

    掃描電鏡顯微鏡的組成及應(yīng)用

    在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡顯微鏡發(fā)揮著極其重要的作用,被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡顯微鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成。電子光學(xué)系統(tǒng):由電子槍,電磁透鏡,掃描線圈和樣品...
  • 2021

    6-21

    掃描電鏡在微電子技術(shù)中的應(yīng)用

    掃描電鏡與一般光學(xué)顯微鏡相比,具有以下特點(diǎn):焦深大,視場(chǎng)調(diào)節(jié)范圍寬、圖象立體感強(qiáng),分辨率高以及通過收集電子束與樣品作用而得到樣品材料結(jié)構(gòu)和物理特性的信息。這些特點(diǎn)對(duì)于分析微電子材料和器件來說具有更為突出的效用,因而它在微電子材料和器件分析中的應(yīng)用越來越廣泛。本文主要介紹掃描電鏡在微電子技術(shù)中應(yīng)用。(1)質(zhì)量監(jiān)控與工藝診斷硅片表面沾污常常是影響微電子器件生產(chǎn)質(zhì)量的嚴(yán)重問題,為了查清沾污的種類、來源,以清除沾污,就必須對(duì)沾污物進(jìn)行檢查和鑒定。硅片沾污物種類繁多,有太氣中灰塵、加工...
  • 2021

    6-15

    透射電鏡的組成結(jié)構(gòu)分幾部分?

    1、電子光學(xué)部分整個(gè)電子光學(xué)部分*置于鏡筒之內(nèi),自上而下順序排列著電子槍、聚光鏡、樣品室、物鏡、中間鏡、投影鏡、觀察室、熒光屏、照相機(jī)構(gòu)等裝置。根據(jù)這些裝置的功能不同又可將電子光學(xué)部分分為照明系統(tǒng)、樣品室、成像系統(tǒng)及圖像觀察和記錄系統(tǒng)。(1)照明系統(tǒng)照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應(yīng)的平移對(duì)中及傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是為成像系統(tǒng)提供一束亮度高、相干性好的照明光源。為滿足暗場(chǎng)成像的需要照明電子束可在2-3度范圍內(nèi)傾斜。①電子槍它由陰極、柵極和陽(yáng)極構(gòu)成。在真空中通電加熱后使從陰極...
  • 2021

    6-11

    環(huán)境對(duì)臺(tái)式掃描電鏡產(chǎn)生的影響有哪些?

    想必臺(tái)式掃描電鏡使用者都知道,臺(tái)式掃描電鏡日常的維護(hù)保養(yǎng)十分關(guān)鍵,無論儀器設(shè)備是在運(yùn)行情況還是非運(yùn)行情況,都對(duì)周邊的環(huán)境有嚴(yán)苛的規(guī)定。這類環(huán)境會(huì)對(duì)臺(tái)式掃描電鏡造成遲緩的影響,假如稍不注意便會(huì)使它的使用期限慢慢減少。因此使用者要看重這個(gè)問題,不能讓環(huán)境影響到其精度。本文就環(huán)境對(duì)臺(tái)式掃描電鏡造成的干擾進(jìn)行介紹:1、灰塵的干擾假如導(dǎo)軌、鏡頭和電源等電子元件沾到了過多浮塵物質(zhì),便會(huì)對(duì)該儀器設(shè)備的精度、成像造成嚴(yán)重干擾,造成測(cè)量效果不精確,而且也會(huì)加速硬件的毀壞,因此一定要定時(shí)清理,注...
  • 2021

    6-8

    掃描電鏡的結(jié)構(gòu)你了解嗎?

    在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用,被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。我們應(yīng)該了解掃描電鏡的結(jié)構(gòu),并在自己的科學(xué)研究中利用好掃描電鏡這個(gè)工具,對(duì)材料進(jìn)行全面細(xì)致的研究。1.鏡筒鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統(tǒng)。其作用是產(chǎn)生很細(xì)的...
  • 2021

    3-19

    光學(xué)顯微鏡是怎樣的操作的?讀完下文你就知道了

    與其他精密儀器相比光學(xué)顯微鏡作為材料表征的常規(guī)手段在制藥和精細(xì)化工領(lǐng)域被嚴(yán)重忽視。在樣品制備方面光學(xué)顯微鏡*的扮演著重要的角色,但其在固體性質(zhì)研究方面一樣可以發(fā)揮重要的作用。本文主要目的在于矯正這種失衡同時(shí)旨在說明光學(xué)顯微鏡特別是偏光顯微鏡在大部分的材料表征中均應(yīng)占有一席之地。對(duì)偏光顯微鏡的應(yīng)用不應(yīng)僅局限于理解所研究化合物的性質(zhì);其應(yīng)當(dāng)是有機(jī)和無機(jī)化合物發(fā)現(xiàn)和發(fā)展進(jìn)而對(duì)其有全面了解這一過程中解決所遇見難題的一個(gè)*的工具。當(dāng)采用多種技術(shù)手段研究化合物的固體性質(zhì)時(shí),偏光顯微鏡可為...
  • 2021

    2-22

    顯微硬度計(jì)測(cè)試儀的構(gòu)成及用途

    一、顯微硬度計(jì)測(cè)試儀的構(gòu)成及用途:1、顯微硬度計(jì)是機(jī)械、冶金等行業(yè)進(jìn)行金屬材料性能檢驗(yàn)的精密儀器,在各行業(yè)中廣泛應(yīng)用。2、顯微硬度計(jì)由主機(jī)、測(cè)微目鏡、各種試臺(tái)、標(biāo)準(zhǔn)硬度塊、各種壓頭、物鏡、調(diào)平角等構(gòu)成。3、測(cè)微目鏡是用來觀察金相或顯微組織,確定測(cè)試部位,測(cè)量對(duì)角線長(zhǎng)度,數(shù)據(jù)的采集等;硬度計(jì)主機(jī)則是完成目鏡與壓頭的切換,在確定的測(cè)試部位進(jìn)行施加載荷,完成平臺(tái)的移動(dòng)尋找像點(diǎn)等;相關(guān)附件主要是為了試件的夾持穩(wěn)固等。4、顯微硬度計(jì)是光機(jī)電一體化的高新技術(shù)產(chǎn)品。5、顯微硬度計(jì)測(cè)試儀是科...
  • 2020

    12-16

    偏光顯微鏡的原理及優(yōu)勢(shì)

    一、偏光顯微鏡的原理:1、單折射性與雙折射性:光線通過某一物質(zhì)時(shí),如光的性質(zhì)和進(jìn)路不因照射方向而改變,這種物質(zhì)在光學(xué)上就具有“各向同性”,又稱單折射體,如普通氣體、液體以及非結(jié)晶性固體;若光線通過另一物質(zhì)時(shí),光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照射方向而有不同,這種物質(zhì)在光學(xué)上則具有“各向異性”,又稱雙折射體,如晶體、纖維等。2、光的偏振現(xiàn)象:光波根據(jù)振動(dòng)的特點(diǎn),可分為自然光與偏振光。自然光的振動(dòng)特點(diǎn)是在垂直光波傳導(dǎo)軸上具有許多振動(dòng)面,各平面上振動(dòng)的振幅分布相同;自然光經(jīng)...
  • 2020

    11-19

    偏光顯微鏡的技術(shù)特征及結(jié)構(gòu)

    一、偏光顯微鏡的技術(shù)特征:1、偏光顯微鏡是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡是具有雙折射性的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法進(jìn)行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。2、偏光顯微鏡的特點(diǎn):將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢,以鑒定某一物質(zhì)是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。3、雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。4、在植物學(xué)方面...
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