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技術(shù)文章
  • 2025

    2-19

    鎢燈絲掃描電鏡的優(yōu)缺點(diǎn)

    鎢燈絲掃描電鏡的總發(fā)射電流和光斑大,抗干擾能力和穩(wěn)定性好??稍诘驼婵障虏怀潆妼?duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷囗形貌分析。優(yōu)勢(shì):1、操作簡(jiǎn)單:設(shè)備結(jié)構(gòu)相對(duì)簡(jiǎn)單,操作界面友好,易于上手。維護(hù)和調(diào)試過程也相對(duì)簡(jiǎn)單,減少了操作人員的培訓(xùn)成本和時(shí)間。2、適應(yīng)性強(qiáng):可以在相對(duì)較低的真空度下工作(3、應(yīng)用廣泛廣,成本較低:鎢燈絲掃描電鏡的整體造價(jià)相對(duì)較低,適合預(yù)算有限的實(shí)驗(yàn)室或研究機(jī)構(gòu)。維護(hù)和保養(yǎng)相對(duì)簡(jiǎn)單且費(fèi)用較低,降低了長(zhǎng)期運(yùn)營(yíng)成本。缺點(diǎn):1、分辨率有限:雖然...
  • 2025

    2-17

    透射掃描電子顯微鏡的基本工作原理

    透射掃描電子顯微鏡是一種結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡特點(diǎn)的復(fù)合型顯微鏡,能夠通過掃描樣品并透射電子束來獲得高分辨率的樣品圖像,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)等領(lǐng)域。透射掃描電子顯微鏡的基本工作原理,包括以下幾個(gè)方面:1、電子束的生成與加速其工作始于電子源的產(chǎn)生。通常采用場(chǎng)發(fā)射槍或熱陰極電子槍(如鎢絲或LaB6)來生成電子。電子源產(chǎn)生的電子被加速,通常加速電壓在幾十千伏(kV)到幾百千伏之間,這些高能電子可以穿透大多數(shù)物質(zhì)。電子束經(jīng)過加速后,會(huì)進(jìn)入柱系統(tǒng)。2、電子...
  • 2025

    2-11

    聚焦離子束顯微鏡在哪些領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用?

    聚焦離子束顯微鏡是一種利用聚焦的離子束對(duì)材料表面進(jìn)行掃描、分析和加工的高精度顯微技術(shù)。它具有非常高的空間分辨率,能夠在微米甚至納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行詳細(xì)的觀察和加工,因此在多個(gè)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。以下是聚焦離子束顯微鏡在不同領(lǐng)域中的一些主要應(yīng)用。1、半導(dǎo)體工業(yè)在半導(dǎo)體行業(yè)中,具有至關(guān)重要的作用,特別是在集成電路(IC)的研發(fā)、制造和故障分析過程中。通過使用,工程師能夠?qū)π酒瑑?nèi)部的微小結(jié)構(gòu)進(jìn)行高精度切割、刻蝕、分析和修復(fù)。2、材料科學(xué)在材料科學(xué)中的應(yīng)用也十分廣泛。通過使用,科學(xué)家能...
  • 2025

    1-17

    顯微硬度測(cè)試儀的使用與維護(hù)

    顯微硬度測(cè)試儀主要用于測(cè)量微小、薄型試件以及脆硬材料的硬度。它特別適用于薄膜、陶瓷、電子組件、金屬表面加工層、熱處理試件等材料的測(cè)試。此外還可以用于研究物質(zhì)的力學(xué)性質(zhì),如彈性模量等,以及納米材料的力學(xué)性質(zhì)。本公司提供的Q10/Q30顯微硬度測(cè)試儀根據(jù)材料和表面進(jìn)行自動(dòng)亮度調(diào)節(jié);可安裝多個(gè)硬度壓力頭和目鏡的可自動(dòng)旋轉(zhuǎn)六位測(cè)量轉(zhuǎn)塔臺(tái);具有方便易用的QpixT12及QpixCONTROL軟件系統(tǒng),具有多種菜單和測(cè)量功能,如可根據(jù)客戶的標(biāo)準(zhǔn)、數(shù)據(jù)管理、統(tǒng)計(jì)及數(shù)據(jù)輸出功能和文本的各種要...
  • 2025

    1-14

    智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途

    智能型鎢燈絲掃描電鏡結(jié)合了傳統(tǒng)掃描電鏡的高分辨率成像能力與智能化的控制系統(tǒng),具有更高的自動(dòng)化水平、更強(qiáng)的圖像處理能力以及更多的數(shù)據(jù)分析功能。它能夠提供更加精確、快速和高效的掃描成像,為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供強(qiáng)有力的支持。智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途:1、材料科學(xué)研究材料科學(xué)是應(yīng)用的一個(gè)重要領(lǐng)域。它可以通過高分辨率成像和化學(xué)分析,幫助研究人員深入了解各種材料的微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌和成分分布。例如,在金屬、合金、陶瓷、復(fù)合材料等領(lǐng)域,可用于觀察材料的晶粒結(jié)構(gòu)、缺陷、斷裂面等。2、...
  • 2025

    1-8

    簡(jiǎn)述高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理

    高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種用于觀察材料表面微觀結(jié)構(gòu)的先進(jìn)電子顯微鏡,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體行業(yè)等領(lǐng)域。它采用場(chǎng)發(fā)射電子源,具有比傳統(tǒng)掃描電鏡(SEM)更高的分辨率和更強(qiáng)的成像能力。其工作原理主要包括電子源、電子束的掃描、樣品與電子束的相互作用、圖像的獲取等過程。高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下:1、電子槍和場(chǎng)發(fā)射源其核心部件之一是電子槍,通常采用場(chǎng)發(fā)射電子源。場(chǎng)發(fā)射電子源與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源(如鎢絲陰極)相比,具有更高的亮度和更窄的電子束發(fā)射角度。場(chǎng)發(fā)射電子源...
  • 2024

    12-25

    FIB雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)是什么?

    FIB雙束掃描電鏡是一種結(jié)合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)的高精度微納加工和分析設(shè)備,在試驗(yàn)時(shí)可通過轉(zhuǎn)動(dòng)試樣臺(tái)使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而達(dá)到對(duì)電子束進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè)和對(duì)離子束進(jìn)行切割或者微加工等效果。應(yīng)用優(yōu)勢(shì):1、高精度加工:FIB技術(shù)可以在不破壞樣品整體結(jié)構(gòu)的情況下,制備出高質(zhì)量的截面樣品,適用于多層互連結(jié)構(gòu)和微小缺陷的分析。2、實(shí)時(shí)成像監(jiān)控:SEM可以對(duì)樣品表面進(jìn)行實(shí)時(shí)成像,幫助分析師快速準(zhǔn)確地找到異常區(qū)域,定位問題區(qū)域。3、操作靈活性高:FIB...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|掃描電鏡下的食品微觀結(jié)構(gòu)

    掃描電子顯微鏡(SEM)是一種應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域的高分辨率成像儀器,因其優(yōu)異的表征性能和高分辨率的成像能力,廣泛應(yīng)用于食品微觀結(jié)構(gòu)的表征中。民以食為天,食品是日常生活中不可少的一部分,而食品的微觀結(jié)構(gòu)與品質(zhì)密切相關(guān),因此利用掃描電子顯微鏡對(duì)食品進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)表征具有重要的意義。首先,掃描電子顯微鏡能夠揭示食品中微觀結(jié)構(gòu)的形貌和組織特征。以鹽為例,傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡分辨率和景深都有限,只能觀察到鹽的晶體外觀,而無法揭示其微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。通過掃描電子顯微鏡,可以清晰地觀察到鹽晶體的表...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|掃描電鏡在電纜失效分析中的應(yīng)用

    電連接器在電氣系統(tǒng)中主要應(yīng)用在電信號(hào)的傳輸。復(fù)雜的電信號(hào)系統(tǒng)由成千上萬個(gè)連接器組成。每個(gè)連接器的好壞優(yōu)劣直接影響整個(gè)系統(tǒng)的功能實(shí)現(xiàn),所以連接器失效造成的影響很大,當(dāng)一根電纜出現(xiàn)失效后需要從連接器到線纜逐一排除問題,發(fā)現(xiàn)根源,進(jìn)而規(guī)避失效電纜的出現(xiàn)。案例一掃描電鏡作為材料顯微分析的重要工具,廣泛應(yīng)用于電纜的失效分析。如下圖A電纜,導(dǎo)線在連接器焊點(diǎn)處發(fā)生斷裂。顯微鏡下對(duì)斷口進(jìn)行觀察,斷口表面存在金屬光澤,斷口附近未見機(jī)械損傷及腐蝕痕跡,斷口宏觀形貌如下圖所示。圖1:電纜斷口宏觀形...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|硬質(zhì)合金粉末微觀形貌及元素分析

    掃描電子顯微鏡在硬質(zhì)合金材料中的分析和應(yīng)用十分廣泛,主要應(yīng)用于硬質(zhì)合金材料粉末的形貌觀察,均勻性和結(jié)晶度觀察,合金組織觀察,斷口分析,微區(qū)成分分析以及涂層厚度測(cè)量等。還可以用于深入研究硬質(zhì)合金材料的微觀結(jié)構(gòu)與工藝條件及性能的關(guān)系,對(duì)材料整個(gè)生產(chǎn)鏈的機(jī)理研究,工藝研發(fā)和質(zhì)量控制等均可提供指導(dǎo)性的作用。硬質(zhì)合金的原材料硬質(zhì)合金是以一種或幾種難熔碳化物(碳化鎢、碳化鈦等)的粉末,加入作為粘結(jié)劑的金屬粉末(鈷、鎳等),經(jīng)過粉末冶金法制得的合金。而硬質(zhì)合金的性能直接取決于其顯微結(jié)構(gòu),而...
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